篇一 單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式500字
單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式
(在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲，最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容)
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題(可與實(shí)驗(yàn)名稱不同)
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試：
(一)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
(二)實(shí)驗(yàn)電路：畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
(三)實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟：
(1)對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析，理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。(2)列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
(3)畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。
(4)根據(jù)(2)、(3)的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
(5)調(diào)試程序(可以使用模擬仿真器)。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的.方法，如單步、斷點(diǎn)等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯(cuò)的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。
(四)實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
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篇二 單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告樣文500字
（在所做過(guò)的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容里挑選一個(gè)自己最有收獲，最有感想的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容）
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題（可與實(shí)驗(yàn)名稱不同）
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試：
（一）實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
（二）實(shí)驗(yàn)電路：畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
（三）實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟：
（1）對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析，理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。（2）列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
（3）畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。
（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點(diǎn)等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯(cuò)的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。
（四）實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
篇三 2023年最新單片機(jī)綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告格式500字
綜合實(shí)驗(yàn)報(bào)告標(biāo)題（可與實(shí)驗(yàn)名稱不同）
一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康暮鸵蟆?/p>
二、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備。
三、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試：
（一）實(shí)驗(yàn)內(nèi)容。
（二）實(shí)驗(yàn)電路：畫(huà)出與實(shí)驗(yàn)內(nèi)容有關(guān)的簡(jiǎn)單實(shí)驗(yàn)電路。
（三）實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)及調(diào)試步驟：
（1）對(duì)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容和實(shí)驗(yàn)電路進(jìn)行分析，理出完成實(shí)驗(yàn)的設(shè)計(jì)思路。（2）列出程序設(shè)計(jì)所需的特殊標(biāo)志位、堆棧sp、內(nèi)部ram、工作寄存器等資源的分配列表，分配列表時(shí)注意考慮資源在程序執(zhí)行過(guò)程可能會(huì)出現(xiàn)沖突的問(wèn)題。
（3）畫(huà)出程序設(shè)計(jì)流程圖，包括主程序和各子程序流程圖。
（4）根據(jù)（2）、（3）的內(nèi)容寫(xiě)出實(shí)驗(yàn)程序。
（5）調(diào)試程序（可以使用模擬仿真器）。
a、根據(jù)程序確定調(diào)試目的，即調(diào)試時(shí)所需觀察的內(nèi)容結(jié)果。
b、根據(jù)各調(diào)試目的分別選擇調(diào)試所需的方法，如單步、斷點(diǎn)等命令，分別列出各調(diào)試方法中所需要關(guān)注記錄的內(nèi)容。
c、調(diào)試程序，按各種調(diào)試方法記錄相應(yīng)的內(nèi)容。
d、分析調(diào)試記錄的內(nèi)容和結(jié)果，找出程序中可能出錯(cuò)的地方，然后修改程序，繼續(xù)調(diào)試、記錄、分析，直到調(diào)試成功。
（四）實(shí)驗(yàn)調(diào)試過(guò)程中所遇到的問(wèn)題、解決問(wèn)題的思路和解決的方法。
四、實(shí)驗(yàn)后的經(jīng)驗(yàn)教訓(xùn)總結(jié)。
